CF Infinity Corrected Objectives
Nikon CF Infinity Corrected Objectives (CF IC 系列) 採用 CF 無限遠校正光學系統，結合經驗證的 CF 光學品質與無限遠修正設計，能夠輸出高對比度、清晰且解析度優異的影像，並將耀光降至最低。
此系列涵蓋標準型、長工作距、超長工作距、高級消色差 (Apochromat) 以及 干涉專用物鏡 (Interferometry Objectives)，適用於 半導體、光電、材料科學、精密檢測與科研應用。
CF 無限遠光學系統：結合 CF 光學技術與無限遠修正，確保高解析度影像。
廣泛選擇：包含 Achromat、Apochromat、長工作距 (ELWD)、超長工作距 (SLWD)。
高對比與低耀光：在工業檢測環境下提供清晰穩定的影像。
干涉專用型號：支援雙光束干涉 (DI) 與干涉專用 (TI)，適合薄膜厚度與表面形貌量測。
工業與科研兩用：滿足從顯微觀測到高精度量測的需求。
| 類型 | 型號 | 放大倍率 | NA | WD (mm) |
|---|---|---|---|---|
| Brightfield | CF IC EPI E Plan (Achromat, Standard) | 10X | 0.25 | 12.50 |
| Brightfield | CF IC EPI Plan (Achromat, Standard) | 2.5X * | 0.075 | 8.80 |
| 5X | 0.13 | 22.50 | ||
| 10X | 0.30 | 16.50 | ||
| 20X | 0.46 | 3.10 | ||
| 50X | 0.80 | 0.54 | ||
| 100X | 0.95 | 0.30 | ||
| Brightfield Long WD | CF IC EPI Plan ELWD | 20X | 0.40 | 11.00 |
| 50X | 0.55 | 8.70 | ||
| 100X | 0.80 | 2.00 | ||
| Brightfield Super-long WD | CF IC EPI Plan SLWD | 10X | 0.21 | 20.30 |
| 20X | 0.35 | 20.50 | ||
| 50X | 0.45 | 13.80 | ||
| 100X | 0.73 | 4.70 | ||
| Apochromat (Deluxe) | CF IC EPI Plan Apo | 50X | 0.95 | 0.35 |
| 100X | 0.95 | 0.32 | ||
| 150X | 0.95 | 0.20 | ||
| Special-Use (Interferometry) | CF IC EPI Plan DI (Double-beam Interferometry) | 10XA | 0.30 | 7.40 |
| 20XA | 0.40 | 4.70 | ||
| 50XA | 0.55 | 3.40 | ||
| 100XA | 0.70 | 2.00 | ||
| Special-Use (Interferometry) | CF IC EPI Plan TI (Interferometry) | 2.5XA | 0.075 | 10.30 |
| 5XA | 0.13 | 9.30 |